● OuvertAppel d'offresFournitures🇪🇺 Financement UETED 106/2026
WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM
Acheteur
Publication (JOUE)
3 juin 2026
Type de procédure
Négociée avec appel à la concurrence
Siège de l'acheteur
Heverlee (3001) — BE242
Secteur
Description
WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM
Codes CPV
38000000
Lots (1)
LOT-0001JPA2026ID76 - 1
WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM
38000000